Gossner, H.: шукати на сайті Z-Library

Найбільша колекція наукових статей у сіті. 70,000,000+ безкоштовних статей.

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024

Z-Library - одна з найбільших онлайн-бібліотек у світі, в якій зберігається більше 17,000,000 книг та 84,837,000 статей. Ми намагаємось зробити літературу доступною кожному. Сьогодні (15 вересня 2024) ми відкриваємо додатковий збір пожертвувань на підтримку та розвиток проекту.

Також БЕЗЛІМТНІ завантаження (протягом 31 дня після завершення пожертвування) доступні для ВСІХ користувачів, які підтримають проект в період збору коштів до 1 жовтня 2024.

Про збір коштів Детальніше

Підтримати

Книги
Статті (500+)
Найпопулярніші
Перелік
- Перелік
- Таблиця

Management of Postpartum Hemorrhage

Menzies, Anya V., Poljak, Dijana, Pearl, Michael Loran, Gossner, Gabrielle, Griffin, Todd R., Burke, William M.

Журнал:

Obstetrics & Gynecology

Рік:

2019

Файл:

PDF, 86 KB

2019

Reliability aspects of gate oxide under ESD pulse stress

Adrien Ille, Wolfgang Stadler, Thomas Pompl, Harald Gossner, Tilo Brodbeck, Kai Esmark, Philipp Riess, David Alvarez, Kiran Chatty, Robert Gauthier, Alain Bravaix

Журнал:

Microelectronics Reliability

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.38 MB

english, 2009

Technical progress and energy dependent production functions

Reiner Kümmel, Wolfgang Strassl, Alfred Gossner, Wolfgang Eichhorn

Журнал:

Journal of Economics

Рік:

1985

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.35 MB

english, 1985

Entropy and the Value of Information for Investors

Cabrales, Antonio, Gossner, Olivier, Serrano, Roberto

Журнал:

American Economic Review

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 524 KB

english, 2013

Daly and Doyen's Introduction to Insect Biology and Diversity. 3rd ed.--James B. Whitfield and Alexander H. Purcell III.

Gossner, M. M.

Журнал:

Systematic Biology

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 231 KB

english, 2013

RF ESD protection strategies: Codesign vs. low-C protection

W. Soldner, M. Streibl, U. Hodel, M. Tiebout, H. Gossner, D. Schmitt-Landsiedel, J.H. Chun, C. Ito, R.W. Dutton

Журнал:

Microelectronics Reliability

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.02 MB

english, 2007

Dangerous parasitics of socketed CDM ESD testers

H. Gossner, T. Brodbeck

Журнал:

Microelectronics Reliability

Рік:

1997

Мова:

english

Файл:

PDF, 283 KB

english, 1997

INFORMATIONAL CASCADES ELICIT PRIVATE INFORMATION

Olivier Gossner, Nicolas Melissas

Журнал:

International Economic Review

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 286 KB

english, 2006

N2O-Producing Microorganisms in the Gut of the Earthworm Aporrectodea caliginosa Are Indicative of Ingested Soil Bacteria

Ihssen, J., Horn, M. A., Matthies, C., Gossner, A., Schramm, A., Drake, H. L.

Журнал:

Applied and Environmental Microbiology

Рік:

2003

Мова:

english

Файл:

PDF, 117 KB

english, 2003

[IEEE 31st European Solid-State Device Research Conference - Nuremberg, Germany (2001.9.11-2001.9.13)] 31st European Solid-State Device Research Conference - Influence of Layout Parameters on Triggering Behavior in 0.35um and 0.18um Process gg-nMOS ESD Protection Devices

Litzenberger, M., Pichler, R., Pogany, D., Gornik, E., Esmark, K., Gossner, H.

Рік:

2001

Файл:

PDF, 250 KB

2001

[IEEE 2018 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) - Burlingame, CA (2018.3.11-2018.3.15)] 2018 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) - Contact and junction engineering in bulk FinFET technology for improved ESD/latch-up performance with design trade-offs and its implications on hot carrier reliability

Paul, Milova, Kumar, B. Sampath, Gossner, Harald, Shrivastava, Mayank

Рік:

2018

Мова:

english

Файл:

PDF, 551 KB

english, 2018

Cross-scale effects of land use on the functional composition of herbivorous insect communities

Neff, Felix, Blüthgen, Nico, Chisté, Melanie N., Simons, Nadja K., Steckel, Juliane, Weisser, Wolfgang W., Westphal, Catrin, Pellissier, Loïc, Gossner, Martin M.

Журнал:

Landscape Ecology

Рік:

2019

Мова:

english

Файл:

PDF, 625 KB

english, 2019

Do ESD fails in systems correlate with IC ESD robustness?

Wolfgang Stadler, Tilo Brodbeck, Reinhold Gärtner, Harald Gossner

Журнал:

Microelectronics Reliability

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 433 KB

english, 2009

Bulk and surface degradation mode in 0.35μm technology gg-nMOS ESD protection devices

D Pogany, K Esmark, M Litzenberger, C Fürböck, H Gossner, E Gornik

Журнал:

Microelectronics Reliability

Рік:

2000

Мова:

english

Файл:

PDF, 478 KB

english, 2000

Effect of pulse risetime on trigger homogeneity in single finger grounded gate nMOSFET electrostatic discharge protection devices

M. Litzenberger, R. Pichler, S. Bychikhin, D. Pogany, E. Gornik, K. Esmark, H. Gossner

Журнал:

Microelectronics Reliability

Рік:

2001

Файл:

PDF, 387 KB

2001

Silicon nanoelectronic devices with delta-doped layers

F. Wittmann, H. Gossner, I. Eisele

Журнал:

Journal of Materials Science: Materials in Electronics

Рік:

1995

Мова:

english

Файл:

PDF, 679 KB

english, 1995

Study of triggering inhomogeneities in gg-nMOS ESD protection devices via thermal mapping using backside laser interferometry

M. Litzenberger, K. Esmark, D. Pogany, C. Fürböck, H. Gossner, E. Gornik, W. Fichtner

Журнал:

Microelectronics Reliability

Рік:

2000

Мова:

english

Файл:

PDF, 496 KB

english, 2000

Damage analysis in smart-power technology electrostatic discharge (ESD) protection devices

D. Pogany, N. Seliger, M. Litzenberger, H. Gossner, M. Stecher, T. Müller-Lynch, W. Werner, E. Gornik

Журнал:

Microelectronics Reliability

Рік:

1999

Мова:

english

Файл:

PDF, 437 KB

english, 1999

Characterization and Optimization of Sub-32-nm FinFET Devices for ESD Applications

Thijs, S., Tremouilles, D., Russ, C., Griffoni, A., Collaert, N., Rooyackers, R., Linten, D., Scholz, M., Duvvury, C., Gossner, H., Jurczak, M., Groeseneken, G.

Журнал:

IEEE Transactions on Electron Devices

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 482 KB

english, 2008

Part I: Mixed-Signal Performance of Various High-Voltage Drain-Extended MOS Devices

Shrivastava, M., Baghini, M.S., Gossner, H., Rao, V.R.

Журнал:

IEEE Transactions on Electron Devices

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.14 MB

english, 2010

Saproxylic beetles as indicator species for dead-wood amount and temperature in European beech forests

Thibault Lachat, Beat Wermelinger, Martin M. Gossner, Heinz Bussler, Gunnar Isacsson, Jörg Müller

Журнал:

Ecological Indicators

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 535 KB

english, 2012

A Review on the ESD Robustness of Drain-Extended MOS Devices

Shrivastava, M., Gossner, H.

Журнал:

IEEE Transactions on Device and Materials Reliability

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 2.40 MB

english, 2012

[IEEE 2008 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) - San Francisco, CA, USA (2008.12.15-2008.12.17)] 2008 IEEE International Electron Devices Meeting - Impact of Strain on ESD Robustness of FinFET Devices

Griffoni, A., Thijs, S., Russ, C., Tremouilles, D., Scholz, M., Linten, D., Collaert, N., Rooyackers, R., Duvvury, C., Gossner, H., Meneghesso, G., Groeseneken, G.

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 378 KB

english, 2008

Vertical Si-Metal-Oxide-Semiconductor Field Effect Transistors with Channel Lengths of 50 nm by Molecular Beam Epitaxy

Gossner, Harald, Eisele, Ignaz, Risch, Lothar

Журнал:

Japanese Journal of Applied Physics

Рік:

1994

Файл:

PDF, 968 KB

1994

[IEEE 2007 29th Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium (EOS/ESD) - Anaheim, CA, USA (2007.09.16-2007.09.21)] 2007 29th Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium (EOS/ESD) - Understanding the optimization of sub-45nm FinFET devices for ESD applications

Tremouilles, D., Thijs, S., Russ, C., Schneider, J., Duvvury, C., Collaert, N., Linten, D., Scholz, M., Jurczak, M., Gossner, H., Groeseneken, G.

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 1001 KB

english, 2007

Part I: High-Voltage MOS Device Design for Improved Static and RF Performance

Gupta, Ankur, Shrivastava, Mayank, Baghini, Maryam Shojaei, Sharma, Dinesh Kumar, Gossner, Harald, Rao, V. Ramgopal

Журнал:

IEEE Transactions on Electron Devices

Рік:

2015

Мова:

english

Файл:

PDF, 2.87 MB

english, 2015

A review on plant diversity and forest management of European beech forests

Schulze, E. D., Aas, G., Grimm, G. W., Gossner, M. M., Walentowski, H., Ammer, C., Kühn, I., Bouriaud, O., von Gadow, K.

Журнал:

European Journal of Forest Research

Рік:

2016

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.66 MB

english, 2016

Entropy and the Value of Information for Investors

Antonio Cabrales, Olivier Gossner and Roberto Serrano

Журнал:

American Economic Review

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.47 MB

english, 2013

Biodiversity at multiple trophic levels is needed for ecosystem multifunctionality

Soliveres, Santiago, van der Plas, Fons, Manning, Peter, Prati, Daniel, Gossner, Martin M., Renner, Swen C., Alt, Fabian, Arndt, Hartmut, Baumgartner, Vanessa, Binkenstein, Julia, Birkhofer, Klaus, Bl

Журнал:

Nature

Рік:

2016

Мова:

english

Файл:

PDF, 5.01 MB

english, 2016

System Level ESD Co-Design (Duvvury/System Level ESD Co-Design) || Hard Failures and PCB Protection Devices

Duvvury, Charvaka, Gossner, Harald

Рік:

2015

Мова:

english

Файл:

PDF, 3.09 MB

english, 2015

Land-use intensification causes multitrophic homogenization of grassland communities

Gossner, Martin M., Lewinsohn, Thomas M., Kahl, Tiemo, Grassein, Fabrice, Boch, Steffen, Prati, Daniel, Birkhofer, Klaus, Renner, Swen C., Sikorski, Johannes, Wubet, Tesfaye, Arndt, Hartmut, Baumgartn

Журнал:

Nature

Рік:

2016

Мова:

english

Файл:

PDF, 17.33 MB

english, 2016

System Level ESD Co-Design (Duvvury/System Level ESD Co-Design) || Soft Failure Mechanisms and PCB Design Measures

Duvvury, Charvaka, Gossner, Harald

Рік:

2015

Мова:

english

Файл:

PDF, 4.84 MB

english, 2015

[IEEE 2017 39th Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium (EOS/ESD) - Tucson, AZ, USA (2017.9.10-2017.9.14)] 2017 39th Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium (EOS/ESD) - Risk assessment of cable discharge events

Stadler, Wolfgang, Niemesheim, Josef, Stadler, Andreas, Koch, Sebastian, Gossner, Harald

Рік:

2017

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.80 MB

english, 2017

Identification of Soft Failure Mechanisms Triggered by ESD Stress on a Powered USB 3.0 Interface

Koch, Sebastian, Orr, Benjamin J., Gossner, Harald, Gieser, Horst A., Maurer, Linus

Журнал:

IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility

Рік:

2018

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.18 MB

english, 2018

Cisterno-lumbar gradient of complement fractions in geriatric patients with suspected normal pressure hydrocephalus

Seele, Jana, Kirschfink, Michael, Djukic, Marija, Lange, Peter, Gossner, Johannes, Bunkowski, Stephanie, Wiltfang, Jens, Nau, Roland

Журнал:

Clinica Chimica Acta

Рік:

2018

Мова:

english

Файл:

PDF, 503 KB

english, 2018

On the cost of misperception: General results and behavioral applications

Gossner, Olivier, Steiner, Jakub

Журнал:

Journal of Economic Theory

Рік:

2018

Мова:

english

Файл:

PDF, 491 KB

english, 2018

Evolutionary Foundations of Rational Choice

Gossner, Olivier, Kuzmics, Christoph

Журнал:

SSRN Electronic Journal

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 347 KB

english, 2009

Arthropod decline in grasslands and forests is associated with landscape-level drivers

Seibold, Sebastian, Gossner, Martin M., Simons, Nadja K., Blüthgen, Nico, Müller, Jörg, Ambarlı, Didem, Ammer, Christian, Bauhus, Jürgen, Fischer, Markus, Habel, Jan C., Linsenmair, Karl Eduard, Nauss

Журнал:

Nature

Рік:

2019

Файл:

PDF, 10.19 MB

2019

System ESD robustness by co-design of on-chip and on-board protection measures

H. Gossner, W. Simbürger, M. Stecher

Журнал:

Microelectronics Reliability

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.15 MB

english, 2010

Stable generalized predictive control with constraints and bounded disturbances

J.R. Gossner, B. Kouvaritakis, J.A. Rossiter

Журнал:

Automatica

Рік:

1997

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.87 MB

english, 1997

Device Simulation and Backside Laser Interferometry––Powerful Tools for ESD Protection Development

W. Stadler, K. Esmark, H. Gossner, M. Streibl, M. Wendel, W. Fichtner, D. Pogany, M. Litzenberger, E. Gornik

Журнал:

Microelectronics Reliability

Рік:

2002

Файл:

PDF, 1.51 MB

2002

High abstraction level permutational ESD concept analysis

M. Streibl, F. Zängl, K. Esmark, R. Schwencker, W. Stadler, H. Gossner, S. Drüen, D. Schmitt-Landsiedel

Журнал:

Microelectronics Reliability

Рік:

2005

Мова:

english

Файл:

PDF, 413 KB

english, 2005

Simple Bounds on the Value of a Reputation

Olivier Gossner

Журнал:

Econometrica

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 159 KB

english, 2011

Part II: A Novel Scheme to Optimize the Mixed-Signal Performance and Hot-carrier Reliability of Drain-Extended MOS Devices

Shrivastava, M., Baghini, M.S., Gossner, H., Rao, V.R.

Журнал:

IEEE Transactions on Electron Devices

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.05 MB

english, 2010

Reasoning-based introspection

Olivier Gossner, Elias Tsakas

Журнал:

Theory and Decision

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 167 KB

english, 2012

Does organic grassland farming benefit plant and arthropod diversity at the expense of yield and soil fertility?

Klaus, Valentin H., Kleinebecker, Till, Prati, Daniel, Gossner, Martin M., Alt, Fabian, Boch, Steffen, Gockel, Sonja, Hemp, Andreas, Lange, Markus, Müller, Jörg, Oelmann, Yvonne, Pašalić, Esther, Renn

Журнал:

Agriculture, Ecosystems & Environment

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.00 MB

english, 2013

ESD Evaluation of the Emerging MuGFET Technology

Russ, C., Gossner, H., Schulz, T., Chaudhary, N., Weize Xiong,, Marshall, A., Duvvury, C., Schrufer, K., Rinn Cleavelin, C.R.

Журнал:

IEEE Transactions on Device and Materials Reliability

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.49 MB

english, 2007

[IEEE Comput. Soc . 17th International Conference on VLSI Design - Mumbai, India (5-9 Jan. 2004)] 17th International Conference on VLSI Design. Proceedings. - ESD protection for the deep sub micron regime - a challenge for design methodology

Gossner, H.

Рік:

2004

Мова:

english

Файл:

PDF, 867 KB

english, 2004

Trophic Links between the Acetogen Clostridium glycolicum KHa and the Fermentative Anaerobe Bacteroides xylanolyticus KHb, Isolated from Hawaiian Forest Soil

Hunger, S., Gossner, A. S., Drake, H. L.

Журнал:

Applied and Environmental Microbiology

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 756 KB

english, 2011

Análisis estilístico de los "Milagros de Nuestra Señora" de Berceoby Carmelo Gariano

Review by: J. W. Gossner

Журнал:

Books Abroad

Рік:

1967

Мова:

english

Файл:

PDF, 370 KB

english, 1967